| ACNP Record | ISSN Record |
Periodico/Rivista | *Microelectronics and reliability | *Microelectronics and reliability (Print) |
Altri Titoli | | Microelectronics reliability |
Editore | Pergamon Press | Pergamon;Elsevier |
Luogo pubblicazione | New York. Oxford | New York. Oxford |
Da anno - Ad anno | 1964- | 1964- |
Lingua | ENG | ENG |
Periodicità | | MENSILE: 9,10,11, o 12 numeri l'anno |
Paese | | GB |
ISSN | 0026-2714 | 0026-2714 |
ISSN-L | 0026-2714 | 0026-2714 |
Codice Dewey | 621.3815 621.381 | 621.3815 |
Cod. CNR | P 00080162 | PD00620807 |
Fonte | ACNP | ISSN |
Supporto | Printed text | Printed text |
Note | | INFORMAZIONE STORICA RELATIVA AL CODICE ISSN. Il seguente Issn collegato a questa notizia e' stato cancellato: 05440173 . L'unico codice corrente e' quello visualizzato nel campo issn. |
Titoli collegati | GIA': *Electronics reliability and microminiaturizationHA PER ALTRO SUPPORTO: *Microelectronics and reliability (Online) | HA PER ALTRO SUPPORTO: *Microelectronics reliability (Online)GIA': *Electronics reliability & microminiaturization |