| ACNP Record | ISSN Record |
Periodico/Rivista | *Journal of electron microscopy | *Journal of electron microscopy |
Titoli paralleli | Denshi Kenbikyo Gakkai-shi | |
Altri Titoli | | Denshi Kenbikyo Gakkai-shi |
Ente/Autore (Marc 710) | Nihon-Denshi-Kenbikyó-Gakkai | Nihon Denshi Kenbikyó Gakkai; Denshi Kenbikyó Gakkai (Japan) |
Editore | Japanese Society of Electron Microscopy | Japanese Society of Electron Microscopy;Oxford University Press |
Luogo pubblicazione | Tokyo | Tokyo |
Da anno - Ad anno | 1953-2012 | 1953-2012 |
Lingua | ENG | ENG |
Periodicità | BIMESTRALE: 6,7, o 8 numeri l'anno | BIMESTRALE: 6,7, o 8 numeri l'anno |
Paese | JP | GB |
ISSN | 0022-0744 | 0022-0744 |
ISSN-L | 0022-0744 | 0022-0744 |
Cod. CDU | 537.533.3; 57.086.3 | |
Codice Dewey | 502.825 | 502.825 |
Cod. CNR | P 00022465 | PD00513525 |
Fonte | ACNP | ISSN |
Supporto | Printed text | Printed text |
Titoli collegati | HA PER ALTRO SUPPORTO: *Journal of electron microscopy (Online) | ASSORBE: *Denshi kembikyóHA PER ALTRO SUPPORTO: *Journal of electron microscopy (Online)POI: *Microscopy (Print) |